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为了帮助光学平台用户更好地识别产品质量，以下POUSTO将简要说明购买光学平台时需要注意的事项，以及各项指标的含义和检测方法。

外观

光学平台的外观应当美观，所有部件不得存在影响安全的锋利角和边缘，更为重要的是，要检查孔口的倒角是否均匀一致即螺孔旋入后应与光学平台的台面垂直，且四周及倒角的平直度也应保持一致，如果光学平台是人工打磨而非经过机械加工，孔口的倒角大小可能会有差异，目测上可发现光学平台周围的倒角部分有弯曲现象。

频率

固有频率不超过2赫兹，也称为自然频率或自振频率，只有当环境扰动力的频率（f）与光学平台的固有频率（fo）之比满足 f/fo > √2 时，系统才能有效隔振，因此，光学平台的固有频率越低，隔振效果越明显。通常，这项指标的检测会使用振动频谱分析仪和便携式振动分析仪进行多点测量，如果供应商无法提供相关仪器，还可以通过以下方法进行粗略测量：用手用力按下或侧推光学平台，然后迅速松手，让光学平台进行较大幅度的上下振动或左右、前后摆动，每秒往复一次的振动频率为1Hz，往复两次则为2Hz，如此类推，这种方法能大致测量光学平台的固有频率。

平面度

要求不得超过每平方米0.05毫米，该指标越小，代表台面的平整度越好，从而更容易调整光路，通常，出厂时要求平面度小于0.05㎜/㎡。常见的检测方法有光电自准直仪法、光学平面度检测仪、水平仪检测法和激光平面度检测仪等，在实验室中，光学平台的平面度通常使用光电自准直仪和光学平直度检测仪进行检测，并经过计算得出结果，这些仪器是生产厂家必须配备的设备。

粗糙度

表面密度纹理和粗糙度（Ra≤0.8μm），该指标旨在确保光学平台具有平滑且无反射的工作表面，良好的表面粗糙度可以有效保护实验设备，通常产品出厂时要求表面粗糙度达到Ra ≤ 0.8μm。粗糙度的检测可以通过目测对比样板或使用粗糙度仪来进行，如果在现场进行检测，可以使用便于携带的粗糙度仪，该仪器能直接读取数据且精度较高。

定位

重复定位精度为±0.10毫米，该指标的目的是确保光学平台在动态条件下保持水平，以便用户进行高速光路操作。检测方法是将一个精度为0.02㎜的百分表固定在稳定的物体上，表头与光学平台的台面接触后，需要反复对台面进行加载或卸载，待达到稳定后，如果读数在正负0.10㎜的范围内则视为合格。

振幅

光学平台台面的振幅应不超过2微米（So≤2μm），在正常使用情况下，为了保证仪器的使用精度，光学平台应尽量保持较低的振幅。同时，可以通过比较光学平台与地面的振幅指标来评估系统的隔振性能，如果光学平台的振幅低于地面的振幅，说明光学平台有效地隔绝了振动；否则，说明隔振效果欠佳或存在振动放大现象，检测振幅指标的方法与检测固有频率的方法类似。

优质的光学平台不仅需要高精度的机械设备进行加工，还必须配备先进的检测技术和仪器，以确保其准确性，只有拥有高品质的光学平台，才能确保科学实验和研究的高精度进行。

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